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光學(xué)計(jì)量儀器

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光切法顯微鏡

    • 產(chǎn)品型號(hào):9J
    • 產(chǎn)品特點(diǎn):顯微鏡9J是以光切測量另件加工表面的微觀不平度。其能判國家標(biāo)準(zhǔn)GB 1031-68所規(guī)定▽3-▽9級(jí)表面光潔度。(表面粗糙度12.5-0.2)對(duì)于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進(jìn)行測量。

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1、工作條件
1.1 適用于在電源220V(±10%)/50Hz、氣溫?cái)z氏5℃~30℃和相對(duì)濕度85%的環(huán)境條件下運(yùn)行。
1.2 建議安放在防震工作臺(tái)上,環(huán)境清潔。
2、產(chǎn)品特點(diǎn)
2.1本儀器在原有的基礎(chǔ)上進(jìn)行了光學(xué)系統(tǒng)升級(jí),明場成像更清晰,避免看不清測量讀數(shù)刻線。
2.2 配備粗微動(dòng)同軸調(diào)焦系統(tǒng),粗動(dòng)松緊可調(diào),微動(dòng)格值:2μm,使之更加準(zhǔn)確的找到成像面。
2.3一體化結(jié)構(gòu)機(jī)身,無需另配變壓電源,操作簡潔、方便。
2.4非接觸式測量,不會(huì)破壞樣品表面層,經(jīng)過計(jì)算后確定紋痕的不平度。
3、主要技術(shù)指標(biāo)
3.1 光學(xué)校正系統(tǒng):
有限遠(yuǎn)光學(xué)校正系統(tǒng),,物鏡能獨(dú)立克服軸向和縱向像差,成像清晰,分辨率高。
3.2   測量參數(shù)
1.測量范圍不平度平均高度值(微米): >0.8-1.6    >1.6-6.3    >6.3-20    >20-80
2.表面光潔度(級(jí)別): 9    8~7        6~5        4~3
3. 所需物鏡: 60X/0.55    30X/0.40      14 X/0.20      7X/0.12
4.總放大倍數(shù): 510X        260X         120X         60X
5.物鏡組件工作距離(mm):0.04    0.2    2.5     9.5
6.視場(mm): 0.3        0.6            1.3        2.5
7.攝影裝置放大倍數(shù):   約6倍
8.測量不平度范圍:(0.8-80)微米
9..不平寬度:用測微目鏡:0.7微米-2.5毫米
用座標(biāo)工作臺(tái):(0.01-13)毫米
2.3外形尺寸
儀器重量約:23公斤,外形尺寸(mm): 約180*290*470毫米
日期:2021-01-15   瀏覽:842